ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare interesse alla scienza dei materiali. Grazie a questo strumento è possibile comprendere le proprietà fondamentali dei materiali, eseguire analisi di difetti e fratture meccaniche anche di materiali non conduttivi. È possibile, inoltre, indagare materiali ingegnerizzati come ad esempio leghe, rivestimenti e multistrato nanostrutturati fino ad ingrandimenti di x1000000.

Le informazioni ricavate da tale strumento sono immagini di tipo topografico e composizionale del campione indagato.

Inoltre è presente un sistema avanzato di micro e nanoanalisi a dispersione di energia (EDS), Bruker QUANTAX 200, che fornisce informazioni composizionali qualitative e quantitative dei campioni da studiare.

ZEISS EVO MA 10 è in grado di lavorare sia in alto vuoto che in pressione variabile e per questo è possibile analizzare tutti i materiali sia quelli conduttivi sia quelli non conduttivi.

Una fotocamera digitale, ZEISS CameraStand, ha la possibilità di scattare un’istantanea del campione e garantire una più facile analisi del materiale da studiare.

Dai campioni da analizzare è possibile ottenere informazioni topografiche ad ingrandimenti fino a 1000000x, grazie alla presenza del detector degli elettroni secondari in alto vuoto; inoltre è possibile ottenere informazioni composizionali grazie alla presenza del detector degli elettroni retrodiffusi in alto e basso vuoto.

Il sistema avanzato di micro e nanoanalisi a dispersione di energia (EDS) fornisce informazioni composizionali qualitative e quantitative dei campioni da studiare. L’utilizzo del rivelatore XFlash, che non necessita di azoto liquido, permette conteggi estremamente elevati e migliora le rivelazioni degli elementi leggeri. Quantax 200, oltre a produrre analisi qualitative e quantitative, fornisce anche profili di scansione, mappature elementari e acquisisce immagini ad elevate risoluzioni.