microscopia elettronica a scansione

SEM

DESCRIZIONE GENERALE

ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare interesse alla scienza dei materiali. Grazie a questo strumento è possibile comprendere le proprietà fondamentali dei materiali, eseguire analisi di difetti e fratture meccaniche anche di materiali non conduttivi. È possibile, inoltre, indagare materiali ingegnerizzati come ad esempio leghe, rivestimenti e multistrato nanostrutturati fino ad ingrandimenti di x1000000.

Le informazioni ricavate da tale strumento sono immagini di tipo topografico e composizionale del campione indagato.

Inoltre è presente un sistema avanzato di micro e nanoanalisi a dispersione di energia (EDS), Bruker QUANTAX 200, che fornisce informazioni composizionali qualitative e quantitative dei campioni da studiare.

DESCRIZIONE TECNICA

ZEISS EVO MA 10 è in grado di lavorare sia in alto vuoto che in pressione variabile e per questo è possibile analizzare tutti i materiali sia quelli conduttivi sia quelli non conduttivi.

Una fotocamera digitale, ZEISS CameraStand, ha la possibilità di scattare un’istantanea del campione e garantire una più facile analisi del materiale da studiare.

Dai campioni da analizzare è possibile ottenere informazioni topografiche ad ingrandimenti fino a 1000000x, grazie alla presenza del detector degli elettroni secondari in alto vuoto; inoltre è possibile ottenere informazioni composizionali grazie alla presenza del detector degli elettroni retrodiffusi in alto e basso vuoto.

Il sistema avanzato di micro e nanoanalisi a dispersione di energia (EDS) fornisce informazioni composizionali qualitative e quantitative dei campioni da studiare. L’utilizzo del rivelatore XFlash, che non necessita di azoto liquido, permette conteggi estremamente elevati e migliora le rivelazioni degli elementi leggeri. Quantax 200, oltre a produrre analisi qualitative e quantitative, fornisce anche profili di scansione, mappature elementari e acquisisce immagini ad elevate risoluzioni.

Sorgente elettroni Filamento di Tungsteno
Tensione di accelerazione 0.2-30 kV
Corrente di fascio 0.5pA-5µA in continuo
Ingrandimento x7-x1000000
Dimensione campione 230×100 mm (diametro x altezza)
Vuoto in camera Alto e basso vuoto
Detector SE e BSE

TECNOLOGIE E STRUMENTI

Le tecnologie e gli strumenti utilizzati nell’Ecor Campus consentono di analizzare i materiali e sottoporli a test al fine di valutare le loro performance e comprenderne le proprietà fondamentali.

stereomicroscopia

MICROSCOPIA

Gli strumenti avanzati di microscopia ottica ed elettronica a disposizione dell’Ecor Campus consentono l’analisi delle diverse tipologie di materiali, attraverso immagini ad elevata risoluzione.
Permettono inoltre lo studio della morfologia e della topografia delle superfici.

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DMA

L’analisi meccanica dei solidi nell’Ecor Campus avviene tramite l’utilizzo della piattaforma avanzata RSA-G2, TA INSTRUMENTS.

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NETWORK OF EXCELLENCE

Il progetto dell’Ecor Campus si inserisce in una rete di collaborazioni con i principali centri di riferimento emiliani, nazionali, internazionali.

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